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手持式x射線光譜儀器在檢測貴金屬中已經(jīng)成為一種常用的手段，但首飾雖然有貴金屬卻并不是普通的x射線光譜儀器能夠檢測的。

一般情況下，熒光光譜儀要求被分析的樣品應(yīng)具有平坦而均勻的被照射面積，才能獲得可靠而精確的結(jié)果。這些光譜儀的照射面積比較大（一般直徑20毫米以上），然而，很多貴金屬產(chǎn)品，例如金銀項鏈，鉑金鉆戒等都比較精致，形狀結(jié)構(gòu)復(fù)雜，有的還鑲嵌珠寶或其他合金，因此，使用這類X射線熒光光譜儀難以對首飾等貴金屬產(chǎn)品進行可靠的分析。

雖然使用小孔光闌或準直器可以獲得微束實現(xiàn)微區(qū)檢測。但是，小孔光闌或準直器在縮小光束光斑大小的同時也降低了光束的能量，導(dǎo)致為了得到較高的光束能量，所使用的X射線管需要具有大功率，增加了驅(qū)動難度和散熱問題。同時，由于降低了光束能量，對于包金層、鍍金層過厚的貴金屬制品無法檢測。

手持式x射線光譜儀器

為了解決上述問題，1991年，Kumakhov等人將X光透鏡引入X射線熒光光譜儀中實現(xiàn)微區(qū)檢測（WO9208325）。X射線熒光光譜儀中使用Kumakhov透鏡調(diào)整光束，可以在不損失光束能量的同時獲得小的照射光斑，照射到樣品上的光束具有高強度。

       X光透鏡能夠在不減小照射能量的情況下獲得小的照射光斑，逐漸成為貴金屬檢測用XRF中產(chǎn)生微束的主要手段。但是，由于 X 光透鏡是通過利用透鏡中的X 射線的反射、散射、

        吸收或諸如此類使X射線聚焦的裝置，在高能量X射線的情況下（高能量X射線是檢測貴金屬所必須的），反射、散射或吸收的效率低，且因偏離聚焦光程而導(dǎo)致的照射樣本上除焦點以外的一部分的概率變大。換言之，在使用X光透鏡的方法中，高能量X射線的聚焦效率低，且微弱照射焦點外圍以及因此離焦的光暈分量增加（在樣本表面處擴展的分布）。結(jié)果，在受激的高能量X射線是必需的情況下，不可能忽視由于同時激發(fā)波及焦點外圍的區(qū)域而造成的影響并且損失了關(guān)于X射線分析中那一部分正被測量的準確度，使得測量精度成為問題。